根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化工作的總體安排，現(xiàn)將申請(qǐng)立項(xiàng)的《電真空器件用鎳及鎳合金光譜分析方法》等124項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，《發(fā)光二極管芯片點(diǎn)測(cè)方法》等42項(xiàng)電子國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃項(xiàng)目予以公示(見(jiàn)附件1、2)，截止日期為11月15日。如對(duì)擬立項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目有不同意見(jiàn)，請(qǐng)?jiān)诠酒陂g填寫《標(biāo)準(zhǔn)立項(xiàng)反饋意見(jiàn)表》(見(jiàn)附件3)并反饋至我司，電子郵件發(fā)送至KJBZ@miit.gov.cn(郵件主題注明：工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)立項(xiàng)公示反饋)。
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電真空器件用鎳及鎳合金光譜分析方法等124項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制修訂計(jì)劃（征求意見(jiàn)稿）.doc
發(fā)光二極管芯片電測(cè)方法等42項(xiàng) 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)制修訂計(jì)劃（征求意見(jiàn)稿）.doc
