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NS3800三維激光共聚焦顯微鏡

 
品牌: Nanoscope Systems
激光波長: 405nm
型號: NS3800
PC: Windows 10, 64bit
單價: 面議
起訂: 1 臺
供貨總量: 1 臺
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 90 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 江蘇
有效期至: 長期有效
最后更新: 2021-07-08 09:57
瀏覽次數(shù): 410
 
公司基本資料信息
詳細(xì)說明

NS3800三維激光共聚焦顯微鏡

NS-3800是一種精確、可靠的三維(3D)測量高速共焦激光掃描顯微鏡(CLSM)。通過快速光學(xué)掃描模塊和信號處理算法實現(xiàn)實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結(jié)構(gòu),如半導(dǎo)體晶片,F(xiàn)PD產(chǎn)品,MEMS設(shè)備,玻璃基板,材料表面等方面擁有*的解決方案。 

Features & Benefits(性能及優(yōu)勢):

Application field(應(yīng)用領(lǐng)域):

NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。

可測量微米和亞微米結(jié)構(gòu)的高度,寬度,角度,面積和體積,例如

-半導(dǎo)體:IC圖形,凹凸高度,線圈高度,缺陷檢測,CMP工藝

- FPD產(chǎn)品:觸摸屏屏幕檢測,ITO圖案,LCD柱間距高度

- MEMS器件:結(jié)構(gòu)三維輪廓,表面粗糙度,MEMS圖形

-玻璃表面:薄膜太陽能電池,太陽能電池紋理,激光圖案

-材料研究:模具表面檢測,粗糙度,裂紋分析

 

Dimension(尺寸):

Specification (規(guī)格):

Model

Microscope  NS-3800

備注

物鏡倍率

10x

20x

50x

100x

 

觀察/  測量范圍  

水平 (H): μm

1400

700

280

140

 

垂直 (V): μm

1050

525

210

105

 

工作范圍: mm

16.5

3.1

0.54

0.3

 

數(shù)值孔徑(N.A.)

0.30

0.46

0.80

0.95

 

光學(xué)變焦

x1 to x6

 

總放大倍率

178x to 26700x

 

觀察/測量光學(xué)系統(tǒng)  

針孔共聚焦光學(xué)系統(tǒng)

 

高度測量

測量掃描范圍

Fine scan : 100 μm (and/or) Long scan : 7 mm [NS-3800L]

注 1

Fine scan : 400 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800D]

Fine scan : 200 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800T]

顯示分辨率

0.001 μm

 

重復(fù)率 σ

0.010 μm

注 2

寬度測量

顯示分辨率

0.001 μm

 

重復(fù)率 3σ

0.02 μm

注 3

幀記憶

像素

1024x768, 1024x384,   1024x192, 1024x96

 

單色圖像

12 bit

 

彩色圖像

8-bit for RGB each

 

高度測量

16 bit

 

幀速率

表面掃描

20 Hz to 160 Hz

 

線掃描

~8 kHz

 

自動功能

自動增益

 

激光共焦測量光源

波長

 405nm

 

輸出

~2mW

 

激光等級

Class 3b

 

激光接收元件

PMT (光電倍增管)

 

光學(xué)觀察光源

10W LED

 

光學(xué)觀察照相機(jī)

成像元件

1/2” 彩色圖像 CCD 傳感器

 

記錄分辨率

640x480

 

自動調(diào)整

增益, 快門速度, White balance

 

數(shù)據(jù)處理單元

 PC

 

電源

電壓

100 to 240 VAC, 50/60 Hz

 

電流

500 VA max.

 

重量

顯微鏡

Approx. ~50 kg

(Measuring head unit : ~12 kg)

 

控制器

~8 kg

 

隔振系統(tǒng)

氣浮隔振系統(tǒng)

Option

                 

注1:精細(xì)掃描由壓電執(zhí)行器(PZT)執(zhí)行。

注2 :以100×/ 0.95物鏡對標(biāo)準(zhǔn)樣品(步長1μm)進(jìn)行100次測量。      

注 3 :以100×/ 0.95物鏡對標(biāo)準(zhǔn)樣品(5μm間距)進(jìn)行100次測量。

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