美國TSI公司將于2017 年11 月21－24 日參加在河北省石家莊市舉辦的第十三屆全國氣溶膠會議。本次會議由中國顆粒學會氣溶膠專業(yè)委員會主辦，河北工程大學承辦，中國顆粒學會、中國科學院地球環(huán)境研究所、中國科學院大氣物理研究所、國際空氣與廢棄物管理學會中國學會、北京粉體技術協(xié)會協(xié)辦。旨在交流我國氣溶膠領域的最新研究成果，搭建氣溶膠領域產學研學術交流平臺，提升我國氣溶膠研究水平。美國工程院院士/明尼蘇達大學David Y. H. Pui 教授和中國科學院地球環(huán)境研究所曹軍驥研究員擔任本次會議共同主席，本次會議規(guī)模約 400 人。

美國TSI公司于會上針對大氣顆粒物的測量，展示了以下多種氣溶膠檢測技術和設備。

TSI最新推出的SMPS™ 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。

3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

TSI 3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量?；赥SI公司40年氣溶膠儀器設計的經(jīng)驗，本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質量和高精度的數(shù)據(jù)。同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。該產品是廣大環(huán)境研究機構和環(huán)境監(jiān)測部門進行顆粒物監(jiān)測分析和源解析的最佳儀器。

敬請大家屆時光臨美國TSI公司位于四美五洲國際酒店四樓的A12展位！  

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