TSI公司將于會(huì)上展出TSI 3910 型NanoScan SMPS 打開納米顆粒粒徑常規(guī)測(cè)量的大門。這一革命性的粒徑譜儀將TSI 公司的SMPSTM 粒徑譜儀集成在約一個(gè)籃球大小的便攜箱內(nèi)。容易使用，重量輕，電池供電等優(yōu)點(diǎn)使NanoScan SMPS 讓研究人員多點(diǎn)采集納米顆粒粒徑分布數(shù)據(jù)成為可能。由TSI 核心技術(shù)中衍生而來，NanoScan SMPS 是一個(gè)創(chuàng)新的，低成本的實(shí)時(shí)納米粒徑測(cè)量的有效解決方案。
3321 空氣動(dòng)力學(xué)粒徑譜儀(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實(shí)時(shí)空氣動(dòng)力學(xué)檢測(cè)。這些獨(dú)特的粒徑分析儀還檢測(cè) 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強(qiáng)度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對(duì)數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。
TSI 的SMPS™ 粒徑譜儀被廣泛用作測(cè)量空氣中的顆粒粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)。此系統(tǒng)還常用于懸浮在液體中的納米顆粒粒徑的精確測(cè)量。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院(NIST) 使用TSI DMA 篩分直徑60 nm 和100 nm 的標(biāo)準(zhǔn)粒徑作為參考標(biāo)準(zhǔn)。SMPS 粒徑譜儀的粒徑測(cè)量是一種直接測(cè)量粒子數(shù)濃度的非連續(xù)技術(shù)，而無需假定顆粒的形狀來得到粒徑分布。該方法不依賴于粒子或液體的折射率，并具有絕對(duì)的粒徑精度和高測(cè)量重復(fù)性。TSI 具有超過30 年粒徑譜儀的歷史，3938 型是第三代的掃描電遷移粒徑譜儀，是研究人員可以依賴的儀器。
TSI 3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的測(cè)量。基于TSI公司40年氣溶膠儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強(qiáng)度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時(shí)，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精確性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機(jī)構(gòu)和環(huán)境監(jiān)測(cè)部門進(jìn)行顆粒物監(jiān)測(cè)分析和源解析的最佳儀器。
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