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賽默飛發(fā)布三款用于半導(dǎo)體領(lǐng)域新品 提升實驗室分析效率

   2017-07-07 賽默飛世爾科技825
核心提示:近日,科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界領(lǐng)導(dǎo)者賽默飛世爾科技(以下簡稱:賽默飛)亮相成都第 24 屆國際集成電路物理與失效分析研討會 (IPFA 2017),并發(fā)布三款用于半導(dǎo)體失效分析工作流程的全新產(chǎn)品,旨在幫助半導(dǎo)體故障分析實驗室提升處理樣品和獲取數(shù)據(jù)的效率,為尋求快速、高質(zhì)量的電性和物理失效分析的半導(dǎo)體制造商提供創(chuàng)新解決方案。
        近日,科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界領(lǐng)導(dǎo)者賽默飛世爾科技(以下簡稱:賽默飛)亮相成都第 24 屆國際集成電路物理與失效分析研討會 (IPFA 2017),并發(fā)布三款用于半導(dǎo)體失效分析工作流程的全新產(chǎn)品,旨在幫助半導(dǎo)體故障分析實驗室提升處理樣品和獲取數(shù)據(jù)的效率,為尋求快速、高質(zhì)量的電性和物理失效分析的半導(dǎo)體制造商提供創(chuàng)新解決方案。

  新型 Helios G4 等離子聚焦離子束 (FIB) 系統(tǒng)可對各類半導(dǎo)體器件進(jìn)行逆向剝層處理,并提供超高分辨率掃描電子顯微鏡 (SEM) 分析。新型 flexProber 納米探針量測系統(tǒng)可用于快速電性失效分析的應(yīng)用。它能對半導(dǎo)體晶片在互連導(dǎo)線和晶體管級別上的故障位置,做出準(zhǔn)確的定位。新型 Themis S 透射電子顯微鏡 (TEM)用在最具挑戰(zhàn)性的半導(dǎo)體器件上,可提供原子級分辨率的成像和高產(chǎn)率的元素分析。

  “作為科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界領(lǐng)導(dǎo)者,賽默飛始終立于世界科學(xué)發(fā)展的前沿,以強(qiáng)大的技術(shù)創(chuàng)新領(lǐng)導(dǎo)力,為全球用戶提供先進(jìn)科學(xué)服務(wù)產(chǎn)品。”賽默飛中國區(qū)總裁江志成(Gianluca Pettiti)先生表示:“目前中國的半導(dǎo)體市場充滿機(jī)遇與挑戰(zhàn),提升產(chǎn)品性能與效率是產(chǎn)業(yè)的發(fā)展重點。賽默飛始終聚焦中國的科研需求、與本地客戶密切協(xié)作,致力于幫助客戶提高實驗室效率,踐行我們的本地化承諾。”

  “半導(dǎo)體市場不斷地快速發(fā)展,內(nèi)存、代工、物聯(lián)網(wǎng) (IoT)、先進(jìn)封裝和顯示屏市場領(lǐng)域都呈現(xiàn)出強(qiáng)勁的增長”,賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析部亞洲區(qū)副總裁荊亦仁闡述道:“這一發(fā)展帶動了人們對快速、高質(zhì)量電性和物理失效分析需求的提升。這些新的產(chǎn)品將為我們現(xiàn)有的失效分析解決方案增添新的功能,并提高了機(jī)動性”。

  Helios G4 等離子聚焦離子束系統(tǒng)是賽默飛最新一代的雙束顯微鏡。它具有從快速剝層、掃描電子顯微鏡截面成像到透射電子顯微鏡樣品制備在內(nèi)的多種功能。半導(dǎo)體剝層技術(shù)在 14 nm 以下技術(shù)節(jié)點器件上的缺陷定位應(yīng)用變得越來越重要。等離子聚焦離子束搭配Dx 化學(xué)氣體可用于均勻展露金屬層,使賽默飛的納米探針測量系統(tǒng)能夠進(jìn)行電性故障的定位與分析。

雙束顯微鏡

  賽默飛新型 Helios G4 等離子聚焦離子束 (FIB) 系統(tǒng)

  Helios G4 等離子聚焦離子束系統(tǒng)可支持 7 nm 技術(shù)節(jié)點以下器件的逆向剝層處理并提供自動終點檢測,以在指定的金屬層或通過層顯露時自動停止蝕刻。它提供比傳統(tǒng) (Ga+) 聚焦離子束系統(tǒng)快 10 到 20 倍的蝕刻速率,使客戶能夠為納米探針測量系統(tǒng)、透射電子顯微鏡以及掃描電子顯微鏡制備更大面積的樣品,并可廣泛地應(yīng)用于先進(jìn) (2.5D) 封裝、發(fā)光二極管 (LED)、顯示屏以及微電子機(jī)械系統(tǒng) (MEMS) 。

  新型 flexProber 系統(tǒng)旨在幫助客戶對電性失效做出快速定位,并利用低電壓掃描電子顯微鏡來引導(dǎo)精密機(jī)械探針到故障電路元件上。準(zhǔn)確定位有助于提高后續(xù)分析的效率和成本的效益,確保由此定位而制取的透射電鏡樣品包含了故障區(qū)域。專為探針設(shè)計的flexProber 系統(tǒng)的掃描電鏡,與其前代產(chǎn)品 nProber II 相比分辨率提升了 2 倍。它融入了賽默飛高端納米探針量測系統(tǒng)的許多功能,適用于廣泛的半導(dǎo)體器件類型和不同的制程技術(shù)。它提供了入門級配置,同時保留了未來升級到完整納米探針測量系統(tǒng)的可能性。

賽默飛新型 flexProber 納米探針量測系統(tǒng)

  賽默飛新型 flexProber 納米探針量測系統(tǒng)

  Themis S 系統(tǒng)是賽默飛行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) Themis 系列透射電鏡的最新成員。以為20 nm 技術(shù)節(jié)點以下的半導(dǎo)體器件失效分析為目的,Themis S 系統(tǒng)旨在提供大規(guī)模的半導(dǎo)體圖像和分析數(shù)據(jù),同時Themis S還包括了集成的隔振護(hù)罩和完整的遠(yuǎn)程操作功能。球差矯正器、80-200kV 鏡筒、自動對中、XFEG 電子槍和 DualX X 射線能譜儀提供了強(qiáng)大的亞埃級成像能力和快速、準(zhǔn)確的元素和應(yīng)力分析功能。

賽默飛新型 Themis S 透射電子顯微鏡 (TEM)

  賽默飛新型 Themis S 透射電子顯微鏡 (TEM)

  “我們客戶的半導(dǎo)體器件多種多樣,從最先進(jìn)的 7 到20 nm節(jié)點的內(nèi)存和邏輯器件,到在智能手機(jī)和物聯(lián)網(wǎng)等產(chǎn)品中仍占據(jù)重要地位的成熟技術(shù)的器件”,荊亦仁表示:“我們的失效分析工具系列可滿足不同半導(dǎo)體客戶的各種需求。我們期待在中國 IPFA 會議上,與我們的客戶面對面探討我們將如何滿足半導(dǎo)體領(lǐng)域不斷增長的需求。”

  關(guān)于賽默飛世爾科技

  賽默飛世爾科技(紐約證交所代碼:TMO)是科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界領(lǐng)導(dǎo)者。公司年銷售額180億美元,在50個國家擁有約55,000名員工。我們的使命是幫助客戶使世界更健康、更清潔、更安全。我們的產(chǎn)品和服務(wù)幫助客戶加速生命科學(xué)領(lǐng)域的研究、解決在分析領(lǐng)域所遇到的復(fù)雜問題與挑戰(zhàn),促進(jìn)醫(yī)療診斷發(fā)展、提高實驗室生產(chǎn)力。賽默飛的重要應(yīng)用領(lǐng)域包括食品安全、生物制藥、環(huán)境及醫(yī)療保健等垂直市場。借助于首要品牌Thermo Scientific、Applied Biosystems、Invitrogen、Fisher Scientific和Unity Lab Services,我們將創(chuàng)新技術(shù)、便捷采購方案和實驗室運營管理的整體解決方案相結(jié)合,為客戶、股東和員工創(chuàng)造價值。

  賽默飛世爾科技中國

  賽默飛世爾科技進(jìn)入中國發(fā)展已超過35年,在中國的總部設(shè)于上海,并在北京、廣州、香港、成都、沈陽、西安、南京、武漢、昆明等地設(shè)立了分公司,員工人數(shù)約4000名。我們的產(chǎn)品主要包括分析儀器、實驗室設(shè)備、試劑、耗材和軟件等,提供實驗室綜合解決方案,為各行各業(yè)的客戶服務(wù)。為了滿足中國市場的需求,現(xiàn)有7家工廠分別在上海、北京和蘇州運營。我們在全國共設(shè)立了5個應(yīng)用開發(fā)中心,將世界級的前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國內(nèi)客戶,并提供應(yīng)用開發(fā)與培訓(xùn)等多項服務(wù);位于上海的中國創(chuàng)新中心結(jié)合國內(nèi)市場的需求和國外先進(jìn)技術(shù),研發(fā)適合中國的技術(shù)和產(chǎn)品;我們擁有遍布全國的維修服務(wù)網(wǎng)點和特別成立的中國技術(shù)培訓(xùn)團(tuán)隊,在全國有超過2000名專業(yè)人員直接為客戶提供服務(wù)。我們致力于幫助客戶使世界更健康、更清潔、更安全。


 
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