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公司基本資料信息
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X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的精確測量
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900主機的全面自動化控制,
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領先于全世界的測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B :精確度領先于世界,精確到0。025um (相對與標準片)
C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求 ;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D :統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測量任一測量點,最小可達0.025 x 0.051毫米
樣品臺選擇:
CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:
一:手動樣品臺
1 標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調(diào)高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二:自動樣品臺
1 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
2 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
CMI900主要技術(shù)規(guī)格如下:
No. 主要規(guī)格
1X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選
X射線管功率可編程控制
裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統(tǒng):根據(jù)靶材,標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、 多種厚度的二次濾光片任選
位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
3準直器程控交換系統(tǒng):最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器,程序交換控制
多種規(guī)格尺寸準直器任選:
-圓形,如4、6、8、12、20mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使 用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用 0.3mm準直器)
5X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計數(shù)器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室
-樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
-最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
-XY軸程控移動范圍 標準:152.4 x 177.8mm
任選:50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm
177.8 x 177.8mm
610mm x 610mm
-Z軸程控移動高度 43.18mm
-XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動 控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制