2015年11月4日，JEOL在俄勒岡州波特蘭舉行的國(guó)際失效分析與測(cè)試研討會(huì)(ISTFA)上展示了其最新推出的InTouchScope觸控式系列掃描電鏡的最新型號(hào)產(chǎn)品JSM-IT100。JSM-IT100是一款簡(jiǎn)單易用、功能全面的研究級(jí)掃描電鏡，并符合緊湊型的人體工程學(xué)設(shè)計(jì)。

　　JSM-IT100可擴(kuò)展EDS分析功能，并為多種探測(cè)器預(yù)留接口。InTouchScope觸控式掃描電鏡不僅功能全面，而且耐用，能夠很好的滿足不同實(shí)驗(yàn)室的需求。它能夠提供高分辨率，并能夠在高真空和低真空模式下提供系列加速電壓。

　　IT100是一款非常直觀，并具有高通量分析能力的電鏡，其設(shè)計(jì)能夠幫助任何實(shí)驗(yàn)室簡(jiǎn)化工作流程。觸摸屏操作還是傳統(tǒng)的鍵盤和鼠標(biāo)操作，任由實(shí)驗(yàn)人員選擇?？焖贁?shù)據(jù)采集使得成像和樣品分析變得簡(jiǎn)單。

　　利用IT100掃描電鏡，能夠輕松快速獲取高質(zhì)量的的二次電子和背散射電子像。采用硅漂移探測(cè)技術(shù)的嵌入式JEOL EDS系統(tǒng)，具有面分布分析、多點(diǎn)分析、自動(dòng)漂移補(bǔ)償、線掃描、Partial area和Mapping Filter等功能。

　　JEOL備受歡迎的InTouchScope系列產(chǎn)品還包括高壓/低壓可選的NeoScope臺(tái)式電鏡，以及具有高效分析和大塊完整樣品成像分析功能的JSM-IT300LV。

編譯：秦麗娟