LEXT OLS4500 納米檢測顯微鏡將激光顯微鏡與掃描探針顯微鏡*3(SPM)組合在同一臺機器上，從而允許更大范圍放大倍率下的觀察與測量(從50倍到100萬倍)。奧林巴斯公司與Shimadzu公司聯合開發(fā)了LEXT OLS4500。

　　LEXT OLS4500集成了激光顯微鏡功能，對于復雜表面非接觸性3D測量，具有行業(yè)領先的可重復性*1和準確性*2保證，新的功能比如一鍵單擊即可自動獲取3D圖像，圖像獲取速度大約是現有奧林巴斯各種型號產品的兩倍。

　　● 主要特性

　　LEXT OLS4500 納米檢測顯微鏡功能上的新特性：單一掃描區(qū)域里的高分辨率觀察和高精確性測量;設計便于新手操作，包括自動3D圖像獲取功能;3D圖像獲取速度大約是現有奧林巴斯各型產品的兩倍;組合了光學顯微鏡、激光顯微鏡和探針顯微鏡功能的一體機。

　　● 發(fā)布背景

　　近年來，隨著便攜式數據裝置和工業(yè)設備變得越來越小，性能越來越高，而使用人員同時還要求這些產品中使用的傳感器和其它電子組件更加小型化，性能更強。由于這些組件也要求嚴格的質量控制，因此也需要能夠測量表面特性，比如梯度和粗糙度的高度可靠的3D形狀測量器械。同時，需要細微表面特性量化控制的行業(yè)范圍擴展迅速，包括自動和特色材料部。相應地，樣本的特性也更多樣化，包括具有復雜形狀，或粘連特性的樣本，尤其對于研發(fā)中使用，以及生產過程中使用的器械，對其的要求日益增加。奧林巴斯3D測量激光顯微鏡LEXT系列可以觀察并測量尺寸從幾百微米到亞微米的樣品，卓越的3D表面特性的能力使其在工業(yè)和專業(yè)研究領域得到廣泛使用。目前，奧林巴斯公司已添加了新的型號，以滿足在更大范圍里以更高的精確性進行測量和觀察的要求。

　　● 主要特性

　　LEXT OLS4500納米檢測顯微鏡的特性

　　1. 高分辨率觀察和更大范圍的高準確性測量

　　由于大范圍上的測量通常要使用低放大倍率，因此此類圖像的清晰范圍有個限制。為解決這個問題，新的顯微鏡可以實施高分辨率觀察，并使用拼接功能在大范圍上實施高精確性測量，即將625幅不同放大倍率的圖像組合在一起，從而可以用高分辨率來識別小的區(qū)域。而過去的大多數激光顯微鏡一直用于研發(fā)，及其相關領域，以觀察很小的樣本，以高精確性來觀察很大的范圍的能力也在工業(yè)中開啟了顯微鏡作為質量控制工具的先河。

　　2. 設計易于新手操作，包括自動3D圖像獲取功能

　　傳統上3D成像需要復雜的設定(亮度和上下限)。采用新的智能掃描模式后，用戶一鍵單擊即可獲取3D圖像。該功能設計允許即使是初次使用者，獲取的結果也等同于經驗豐富的操作者。

　　3. 3D圖像獲取的速度大約是現有奧林巴斯各種型號的兩倍

　　新型的Ultra-Fast型號獲取3D圖像的速度大約是現有Fast型號的兩倍，比Fine型號快九倍。加速了樣品觀察和測量，大幅提高了效率。

　　4. 單一器械組合了光學顯微鏡、激光顯微鏡和探針顯微鏡*5功能

　　SPM技術與LEXT OLS4100功能的組合意味著可以用很大范圍的放大倍率來進行觀察和測量，從幾十倍到100萬倍。也就是說可以將該顯微鏡用于3D測量，從微米范圍里相對比較大的樣本到納米尺寸的樣本。此外，使用光學或激光顯微鏡功能，該顯微鏡可以快速而準確地切換到超高放大倍率SPM觀察(大約100萬倍)，而不會丟失要觀察的位置的蹤跡。比如，在研究所里對新材料實施形狀測量時，可以實施各種類型的觀察，而不用變換樣本，并且能夠以最適合的放大倍率進行測量。

　　*1： 反復的測量值之間的偏差程度。計量學里的技術詞匯。

　　*2： 測量值與其真實值的差距。計量學里的技術詞匯。

　　*3： 通過探針機械式地在樣本表面移動的納米級別的觀察和測量技術。

　　*4： 1納米是十億分之一米。

　　*5： 掃描探針顯微鏡將探針靠近樣本表面，實現納米級的觀察和測量