最近,具有世界領(lǐng)先的顯微分析技術(shù)和產(chǎn)品的牛津儀器納米分析部宣布AZtecTEM——專配透射電子顯微鏡的能譜軟件正式發(fā)行。自從2011年掃描電子顯微鏡的Aztec分析系統(tǒng)公布后,AZtecTEM早已蓄勢(shì)待發(fā),意欲在透射電鏡領(lǐng)域大展拳腳了。
AZtecTEM專門為TEM工作者提供了最新的顯微分析技術(shù)平臺(tái)。該系統(tǒng)可以最大限度的發(fā)揮新一代大面積能譜儀X-Max的優(yōu)勢(shì),即使計(jì)數(shù)率比較低,也可以采集到足夠多的計(jì)數(shù),保證能譜分析的準(zhǔn)確性。獨(dú)一無(wú)二的Tru -Q引擎將材料的全面及細(xì)節(jié)分析提高到新的高度。TEM工作者首次可以利用AZtec's疊加校正得到的TruMap和TruLine,真正準(zhǔn)確并實(shí)時(shí)地觀察材料的化學(xué)成分變化。同時(shí),Aztec TEM使用自動(dòng)預(yù)估漂移校正,保證納米尺度樣品檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
納米分析部的執(zhí)行董事Ian Barkshire博士談到,“牛津儀器一直居于納米技術(shù)的領(lǐng)先地位,我們已開(kāi)發(fā)出多種高精尖分析設(shè)備,AztecTEM的推出是三十多年來(lái)解決并處理全世界眾多TEM問(wèn)題過(guò)程中不斷總結(jié)發(fā)展的經(jīng)驗(yàn)結(jié)晶,是全世界TEM工作者努力的結(jié)果?!?BR>