適用于安捷倫邏輯分析儀，實(shí)時(shí)DDR3總線協(xié)議違例檢測(cè)器。
主要特性：
在所有存儲(chǔ)區(qū)塊（rank）和顆粒（bank）上實(shí)時(shí)檢測(cè)超過45種協(xié)議違例，單獨(dú)校驗(yàn)總數(shù)超過300次。
支持對(duì)一個(gè)或兩個(gè)插槽的通道進(jìn)行協(xié)議校驗(yàn)。
可對(duì)單一插槽中多達(dá)4個(gè)區(qū)塊進(jìn)行協(xié)議校驗(yàn)。
可對(duì)兩個(gè)插槽上多達(dá)8個(gè)區(qū)塊之間的交互進(jìn)行分析。
支持對(duì)1或2個(gè)插槽中多達(dá)8個(gè)區(qū)塊進(jìn)行模式寄存器捕捉。
顯示統(tǒng)計(jì)信息：各區(qū)塊的計(jì)數(shù)器、讀、寫、總時(shí)鐘以及功率管理信息。
支持自動(dòng)-時(shí)鐘速率檢測(cè)、MIRS捕捉/解碼
使用DIMM或SO-DIMM插槽界接探測(cè)器（interposer）連接到被測(cè)目標(biāo)。