由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，它們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現(xiàn)對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻率的測量。
用途：
（1） 金屬、半導體、導電高分子薄膜（塊體）電阻率的測量；
（2） 金屬薄膜材料電阻率的測量（最大厚度0.2毫米）；金屬塊體材料電阻率的測量（最大厚度6毫米）
儀器組成：
1、 四探針組件
由具有引線的四根探針組成。
2、 SB118精密直流電流源
輸出電流10-6~0.2安培范圍內(nèi)可調(diào)。
3、 直流數(shù)字電壓表
直流數(shù)字電壓表是具有6位半字長、0.1為微伏電壓分辨率的帶單片微機處理技術(shù)的高精度電子測量儀器。