CST-50X型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計、開發(fā)的一種專用光學(xué)儀器，與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖進(jìn)行對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，對比直觀，操作簡單，效率高。是理化試驗室的必備專用設(shè)備。
主要技術(shù)參數(shù)：
投影屏：       200×200mm
放大倍數(shù)：     50X
光源：         12V   100W（鹵鎢燈）
電源：         220V  50Hz   150W
外型尺寸：     515×224×603mm
重量：         約18Kg