主要用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，并或同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)量。
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB10590-89            低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB15091-89            高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB11159-89            低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.25-1992  低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)箱；
GB/T2423.26-1992  高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)箱；
GJB150.2-86            低溫/低氣壓（高度）試驗(yàn)；