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臺階儀,光學(xué)輪廓儀,臺階儀探針,AFM探針,AFM針尖,原子力顯微鏡探針,VEECO探針...

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首頁 > 供應(yīng)產(chǎn)品 > BRUKER 臺階儀 DEKTAK XT
BRUKER 臺階儀 DEKTAK XT
瀏覽: 591
品牌: 3913
單價: 面議
最小起訂量:
供貨總量:
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
有效期至: 長期有效
最后更新: 1970-01-01 08:00
 
詳細信息
第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)
布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創(chuàng)新性的設(shè)計,可以提供無與倫比的重現(xiàn)性,重現(xiàn)性低于5Å。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰,更加鞏固了其行業(yè)領(lǐng)先地位。通過整合其行業(yè)領(lǐng)先產(chǎn)品,DektakXT實現(xiàn)了最高性能。操作簡易,從研發(fā)到質(zhì)量控制都有更好的過程控制。整合了技術(shù)突破到第十代Dektak臺階儀能夠在微電子,半導(dǎo)體,太陽能、超高亮度發(fā)光二極管(LED)、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等行業(yè)實現(xiàn)納米級表面形貌測量。
DektakXT 
Specifications規(guī)格 
測量技術(shù) 探針輪廓技術(shù) 
測量功能 二維表面輪廓測量 
可選三維測量/ 
樣品視景 可選放大倍率, 1 to 4mm FOV 
探針傳感器 低慣量傳感器 (LIS 3) 
探針壓力 使用LIS 3傳感器:1 至 15mg 
低作用力(選配) 使用N-Lite+低作用力傳感器:0.03至 15mg 
探針選項 探針曲率半徑可選范圍: 50nm至25μm 
高徑比 (HAR)針尖:10μm x 2μm和200μm x 20μm; 
可按客戶要求定制針尖 
樣品X/Y載物臺 手動 X-Y 平移:100mm (4 英寸) 
機動X-Y 平移:150mm (6 英寸) 
樣品旋轉(zhuǎn)臺 手動,360°旋轉(zhuǎn); 
機動:360°旋轉(zhuǎn); 
計算機系統(tǒng) 64-bit 多核并行處理器, Windows® 7.0; Optional 23英寸平板顯示器 
軟件 Vision64操作及分析軟件; 
應(yīng)力測量軟件;懸臂偏轉(zhuǎn); 
縫合軟件;三維掃描成像軟件 
減震裝置 減震裝置可用 
掃描長度范圍 55mm (2英寸) 
每次掃描數(shù)據(jù)點 最多可達120,000數(shù)據(jù)點 
最大樣品厚度 50mm (2英寸) 最大晶圓尺寸 200mm (8英寸) 
臺階高度重現(xiàn)性 <5Å, 1σ在1μm臺階上 
垂直范圍 1mm (0.039英寸) 
垂直分辨率 最大1Å ( 6.55μm垂直范圍下) 輸入電壓 100 – 240 VAC, 50 – 60Hz 
溫度范圍 運行范圍20 到 25°C (68到77°F) 
濕度范圍 ≤ 80%, 無冷凝 
系統(tǒng)尺寸及重量 455mm W x 550mm D x 370mm H  (17.9in. W x 22.6in. D x 14.5in. H); 34公斤(75磅); 
附件:550mm L x 585mm W x 445mm H (21.6in. L x 23in. W x 17.5in. H); 21.7公斤(48磅)
詢價單
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