SR-750是一款基于典型的Czerny-Turner光路結構的高分辨率光譜儀。結合創(chuàng)新型的光學器件設計，SR-750配合Andor公司的各型高性能光譜專用CCD/ICCD，可以非常方便進行空間多點光譜的同時采集與測量。

      SR-750可以配用多種附件，拓展應用領域，在透射/反射/吸收光譜、Raman光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供最佳的系統(tǒng)解決方案。

       SR-750的主要技術指標：

焦距長度 750mm 
通光孔徑 f/9.8 
焦平面尺寸 28mmX14mm 
光譜分辨率 0.03nm 
波長重復性 ±0.05nm 
光柵尺寸 68mmX68mm 
光譜儀外觀尺寸 860mmX393mmX213.5mm