牛津儀器（Oxford）公司創(chuàng)建于1959 年，在X射線熒光鍍層測厚儀技術(shù)領(lǐng)域擁有超過35年研發(fā)和制造經(jīng)驗，其生產(chǎn)的CMI900型X射線熒光鍍層測厚儀，具有非破壞、非接觸、多層合金測量、高重現(xiàn)性、高準(zhǔn)確度等特點，厚度測量精度可達0.01微米；可檢測元素范圍從22號元素Ti到92號元素U；可同時測定5層鍍層，同時測量15種元素；可做貴金屬檢測，如Au karat評價；可應(yīng)用于材料和合金元素分析、材料鑒別和分類檢測；可應(yīng)用于液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量檢測；廣泛應(yīng)用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，五金電鍍，裝飾件電鍍，連接器電鍍、鋼絲繩電鍍等多個行業(yè)，在鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 等各方面，從質(zhì)量管理到不良品分析都有著廣泛的應(yīng)用。
 
CMI900型X射線熒光鍍層測厚儀基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定；數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等；統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式；能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

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